TKG150 Kainodara (USD) [34vnt. sandėlyje]
- 1 pcs$1017.75348
- Dalies numeris:
- TKG150
- Gamintojas:
- FLIR Extech
- Išsamus aprašymas:
- ULTRASONIC THICKNESS GAUGE/DATAL. Environmental Test Equipment Ultrasonic Thickness Guage/Datalogger
- Manufacturer's standard lead time:
- Prekyboje
- Tinkamumo laikas:
- Vieneri metai
- Čipas nuo:
- Honkongas
- RoHS:
- Mokėjimo būdas:
-
- Siuntos būdas:
- Šeimos kategorijos:
- PAGRINDINIAI KOMPONENTAI, LTD yra elektroninių komponentų platintojas, kuris siūlo produktų kategorijas, įskaitant: Bandymo laidai - osciloskopo zondai, Testuoti zondo patarimus, Termometrai, Testo laidai - rinkiniai, asortimentai, Bandomieji klipai - aligatorius, krokodilas, sunku, Bandymo laidai - BNC sąsaja, Bandomieji spaustukai - griebtuvai, kabliukai and Įranga - kintami transformatoriai ...
- Konkurencinis pranašumas:
- We specialize in FLIR Extech TKG150 electronic components. TKG150 can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for TKG150, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
TKG150 Produkto atributai
Dalies numeris :
TKG150
Gamintojas :
FLIR Extech
apibūdinimas :
ULTRASONIC THICKNESS GAUGE/DATAL
Serija :
-
Dalies būsena :
Active
Įrankio tipas :
Thickness Tester/Gauge
Skirta naudoti su / susijusiais produktais :
-
Naujausios naujienos
Galbūt jus taip pat domina
-
-
SI8261AAC-C-ISR
Silicon Labs
DGTL ISO 3.75KV GATE DRVR 8SOIC. Gate Drivers 3.75 kV opto-driver replacement in SOIC8
-
-
SI8261ACC-C-ISR
Silicon Labs
DGTL ISO 3.75KV GATE DRVR 8SOIC. Gate Drivers 3.75 kV opto-driver replacement in SOIC8
-
-
Karštos dalys
- TOL-13195
- CSR-10N
- ASR-104
- FLK-721EX-1605
- 461700-NIST
- ASR-106
- 1560
- FTK2010
- LSR-1N0P
- FLUKE-43B/003
- 900AST-IND
- DV3400
- ASR-100
- AMC-2
- FLUKE-725/P27EX
- 8526
- 889A
- 510A
- CTK019
- 2640
- 46070
- 1280B
- 8524
- FLUKE-710
- HRU-101
- HMC-T2220B
- VDV501-089
- VDV512-057
- 461700
- CSR-106
- 1549.1
- HMC-T2240
- PA1599
- AMC-4
- 1523
- 1249B
- FLUKE-810 FC
- UAT-610
- FLK-721EX-1610
- EARTH-TEST