Dalies numeris :
SN74ABT18504PM
Gamintojas :
Texas Instruments
apibūdinimas :
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Logikos tipas :
Scan Test Device with Universal Bus Transceivers
Maitinimo įtampa :
4.5V ~ 5.5V
Darbinė temperatūra :
-40°C ~ 85°C
Montavimo tipas :
Surface Mount
Tiekėjo įrenginio paketas :
64-LQFP (10x10)