Cal Test Electronics - CT4079-NA

KEY Part #: K7289112

Išsamus aprašymas:: OSCOPE PROBE X200/X2K 50MHZ 40M. Test Probes DIFF PROBE KIT 50MHz 3kV 200x/2000x NA

Šeimos kategorijos:: PAGRINDINIAI KOMPONENTAI, LTD yra elektroninių komponentų platintojas, kuris siūlo produktų kategorijas, įskaitant: Priedai, Įranga - aplinkos testeriai, Įranga - Osciloskopai, Bandymo laidai - osciloskopo zondai, Įranga - spektro analizatoriai, Testo laidai - bananas, skaitiklio sąsaja, Bandomieji klipai - aligatorius, krokodilas, sunku and Įranga - elektros testeriai, srovės zondai ...

Konkurencinis pranašumas:: We specialize in Cal Test Electronics CT4079-NA electronic components. CT4079-NA can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for CT4079-NA, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com

Dalies numeris : CT4079-NA

Gamintojas : Cal Test Electronics

apibūdinimas : OSCOPE PROBE X200/X2K 50MHZ 40M

Serija : Elditest™, Cal Test

Dalies būsena : Active

Tipas : Active Differential

Silpninimo vertė : 200:1, 2000:1

Pralaidumas : 50MHz

Atsparumas - įvestis : 40M

Įtampa - maks : 15000V (15kV) (DC + AC Peak)

Talpa - įvestis : 1.3pF

Laido ilgis : 39.370" (1000.00mm)

Spalva : Black, Red, Yellow

Galbūt jus taip pat domina

TC623CCPA

Microchip Technology

IC TEMP SNSR 3V DUAL TRIP 8-DIP. Board Mount Temperature Sensors Dual Prog Trip Point
302115105

Wurth Electronics Inc.

WE-LT CONDUCTIVE SHIELDING GASKE. EMI Gaskets, Sheets, Absorbers & Shielding WE-LT Profile 1000x11.5x10.5mm
VL-MPEE-E4E

VersaLogic Corporation

GIGABIT ETHERNET FIBER OPTIC.
U444-06N-DGU-C

Tripp Lite

USB 3.1 GEN 1 USB-C TO DVI EXTER. Interface Modules USB-C-DVI AdapterUSB Ahub USB-C PDEthrnet
DAC8728EVM

Texas Instruments

EVAL MODULE FOR DAC8728. Data Conversion IC Development Tools DAC8728EVM
DPP901A000

TE Connectivity Measurement Specialties

XPLAINED PRO MS8607. Temperature Sensor Development Tools Xplained Pro MS8607

Karštos dalys