[13538vnt. sandėlyje]
- Dalies numeris:
- BQ27X00-TESTER
- Gamintojas:
- Texas Instruments
- Išsamus aprašymas:
- TEST SYSTEM FOR BQ27X00.
- Manufacturer's standard lead time:
- Prekyboje
- Tinkamumo laikas:
- Vieneri metai
- Čipas nuo:
- Honkongas
- RoHS:
- Mokėjimo būdas:
-
- Siuntos būdas:
- Šeimos kategorijos:
- PAGRINDINIAI KOMPONENTAI, LTD yra elektroninių komponentų platintojas, kuris siūlo produktų kategorijas, įskaitant: Priedai, Vertinimo lentos - jutikliai, Vertinimo lentos - įterptosios - MCU, DSP, UV trintukai, Vertinimo lentos - LED tvarkyklės, Programinė įranga, paslaugos, Vertinimo ir demonstravimo lentos ir rinkiniai and Programuotojai, emuliatoriai ir derinimo programos ...
- Konkurencinis pranašumas:
- We specialize in Texas Instruments BQ27X00-TESTER electronic components. BQ27X00-TESTER can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for BQ27X00-TESTER, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
BQ27X00-TESTER Produkto atributai
Dalies numeris :
BQ27X00-TESTER
Gamintojas :
Texas Instruments
apibūdinimas :
TEST SYSTEM FOR BQ27X00
Serija :
-
Dalies būsena :
Obsolete
Priedo tipas :
Test Board
Skirta naudoti su / susijusiais produktais :
BQ27X00
Naujausios naujienos
Galbūt jus taip pat domina
Karštos dalys
- AT88CK101BK8
- HW-AFX-BERG-SDRAM
- LCD-3.5-QVGA-20
- EV2300
- HW-136-CS48
- 163-433P
- 101-0465
- 210-184-2P
- CY3094
- DB877
- CY3250-23X33QFN
- CY3098
- LFSTBUSB
- BK0012
- CY3250-20SSOP-FK
- HW-MP-FG324
- DSPCOMMPARALLEL
- CY8CKIT-009
- TMDX478R1144PGE
- EB-VACC-GSPI
- CY3083-07
- 935291353598
- AC320004-2
- CY3250-20PDIP-FK
- CY3250-24QFN-FK
- TMDS37716A27FN
- ATF15XX-SAQ100
- DC9S08JM16
- AC2626M6
- TMDX478R1100PZ
- AC163003
- MIKROE-573
- CY3655-02
- DB-LM3S815
- ACEADAPTN14
- CY3250-20X34-POD
- PMF18WD1
- 101-0483
- PS042
- TMDX3240030